可测范围
测量項目示例
在此只列出有代表性的项目。如有任何疑问，请与我们联系。| 1.复磁导率μ'-jμ“ |
| 2.探索铁磁谐振弛豫系数α（自然谐振，施加外部磁场）/铁磁谐振频率 |
| 3.半宽ΔH |
| 4.饱和磁化强度4πMs |
| 5.磁化曲线（B-H曲线）：B（磁通密度）-H（磁场）曲线，矫顽力，剩磁通密度，磁滞损耗，磁导率等。 |
可测频率
DC~30GHz1 Hz至10 MHz（B-H曲线）
可测量的样品形状
薄膜，噪声抑制片，铁氧体，金属片，压粉铁心（B-H曲线）等（在此只列出基本的东西。请联系您需测量的样品。）测量对象示例
噪音抑制片，压粉铁心等
咨询
E-mail:info@keycom.co.jp FAX: 03-5950-3380（如果您急忙拨打TEL 03-5950-3101）
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如有必要，请使用以下“报价单”。销售代表或技术代表将与您联系。
*联系信息
*测量所需频率
*有关样品物质的信息
*处理样品时的注意事项（电导率，挥发性等）
*测得的所需温度（常温，其他）
*如果您希望我们提供样品，请提供详细信息。 示例）酒精度为48度的酒精溶液
*是否要退还样品
询价单(MS-Word)
询价单(PDF)
下载后，可以打印或保存。填写必要的信息，然后通过传真或电子邮件发送。
KEYCOM的测量服务
| # | 基于丰富的测量经验，我方可以提出准确的测量方法和设备，并快速测量出准确的数据。 |
| # | 对于技术上困难的要求和测量，如果理论上可能的话，根据各种测量设备开发经验，目前尚无法解决， 我们努力使测量成为可能。请咨询我们。 （需要比平时更多的时间。3周〜） 示例）2005年11月开发的测量方法→低频下超薄薄膜（0.01μm）的介电常数和介电损耗正切测量 |
| # | KEYCOM社长是IEC（国际电工委员会/国际电工委员会）标准草案的起草成员。 |